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当代光学计量测试技术概论

当代光学计量测试技术概论

定  价:98 元

丛书名:光电技术系列丛书

        

  • 作者:主编杨照金
  • 出版时间:2013/1/1
  • ISBN:9787118084672
  • 出 版 社:国防工业出版社
  • 中图法分类:TB96 
  • 页码:xvi, 451页
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16开
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读者对象:本书可作为光学工程专业博士、硕士研究生和本科生的教学参考书

  《当代光学计量测试技术概论》简要介绍光学量子计量技术和非常规量限光学计量测试技术基本概念、计量标准和测量方法。光学量子计量技术主要介绍量子基准的基本概念和典型量子计量基准,重点介绍光学量子计量相关的内容,包括双光子相关计量技术、单光子探测技术、光子计数技术、单光子成像计量技术、量子长度计量技术、量子时间计量技术和纳米计量技术等。非常规量限光学计量主要介绍非常规量限光学计量测试的基本概念、计量标准和测量方法,涉及了真空紫外与极紫外、高能激光参数、超短激光脉冲特性参数、大口径光学元件与系统参数、微光学参数、高反射光学薄膜参数、大口径光学材料参数等。 
  《当代光学计量测试技术概论》可作为光学工程专业博士、硕士研究生和本科生的教学参考书,亦可作为从事光学计量测试人员的业务参考书。
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