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电子学系统辐射效应与加固技术

电子学系统辐射效应与加固技术

定  价:128 元

        

  • 作者:许献国,曾超著
  • 出版时间:2023/5/1
  • ISBN:9787576705409
  • 出 版 社:哈尔滨工业大学出版社
  • 中图法分类:TN6 
  • 页码:390页
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:24cm
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本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用,以及电子元器件的辐射效应;第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试,以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真;第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。
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