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CEI测量技术原理、系统设计与应用

CEI测量技术原理、系统设计与应用

定  价:99 元

丛书名:中国航天科技前沿出版工程·中国航天空间信息技术系列

        

  • 作者:黄磊、刘友永、陈少伍、孟玮
  • 出版时间:2024/5/1
  • ISBN:9787302660675
  • 出 版 社:清华大学出版社
  • 中图法分类:O4-34 
  • 页码:184
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:
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CEI(connected element interferometry,连线干涉测量,也可称为“短基线干涉测量”)技术是干涉测量技术的一种,其基线长度一般为几十千米; 其通过对载波相时延的测量,进而实时获得目标相对于基线矢量的精确角位置,可适用于中高轨卫星的高精度测定轨及相对定位。《CEI测量技术原理、系统设计与应用》重点介绍了CEI技术的基本原理,CEI系统的设计构建,实现CEI所突破的关键技术,以及CEI技术的工程应用实例;内容丰富全面,理论与实践并重。《CEI测量技术原理、系统设计与应用》有助于从事航天测控工作的技术人员系统掌握和了解CEI技术的工作原理及CEI系统实现方法,具有较高的参考价值。
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