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半导体结构 读者对象:《半导体结构》适合于微电子科学与工程及电子科学与技术等涉及半导体技术的电子学专业及相关学科的学习者,主要作为学习半导体技术领域相关内容的第一本专业课程学习资料。同时本书除作为专业课教材外,也适合对半导体技术有兴趣并具有一定数学、物理、化学及几何学知识储备的读者作为入门读物。
《半导体结构》主要内容总体可被划分为两个部分,分别是晶体的结构理论和晶体的缺陷理论。第一部分主要围绕理想晶体(完美晶体)的主要性质与基本概念撰写,加深读者对晶体结构和关键性质的理解。第一部分拟通过五个章节分别介绍晶体的基本概念、晶体结构、对称性、晶体结构描述方法及典型半导体晶体的重要物理、化学特性和这些特性与晶体微观、宏观性质间的联系。第二部分则主要围绕实际晶体中各种杂志与缺陷态对晶体性能的影响撰写。第二部分拟分为四章撰写,第六至八章分别重点介绍晶体中三个维度的缺陷类型,包括点缺陷、线缺陷和面缺陷。最后,第九章介绍了多种晶体缺陷分析技术,如X射线衍射法、透射电子显微技术、离子微探针技术等。
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